cpk计算公式（单边公差cp,pp,cpk计算公式）
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文章目录一览：
- 1、CPK如何计算?
- 2、cpk计算公式是什么?
- 3、CPK值如何计算
- 4、cpk计算公式是什么？
- 5、cpk计算公式及解释是什么？
CPK如何计算?
CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。
Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)
或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）
通常状况下，质量特性值分布的总体标准差（σ）是未知的，所以应采用样本标准差（s）来代替。
扩展资料
应用
1 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
2. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
3. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
4. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。
5. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。
6. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。
7. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。
参考资料来源：百度百科—cpk
cpk计算公式是什么?
计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］
过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。
cpk计算公式应用：
1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。
5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。
6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。
7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。
CPK值如何计算
计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T=规格上限-规格下限;规格中心值U=(规格上限+规格下限)
依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度:Ca值 (X为所有取样数据的平均值)
依据公式:Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度:Cp值
依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数:Cpk值
Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)
A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级
B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级
C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
CPK:Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。
制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。
当我们的产品通过了GageRR的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。
CPK值越大表示品质越佳。
Cpk--过程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk的中文定义为:制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
cpk计算公式是什么？
CPK的计算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。
CPK是“Combined Public Key”的缩写，中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。
特性
ECC特性
存储量与密钥规模
ECC遵从IEEE标准。
组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵，分割密钥序列(Separating-keysequence )由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成，密钥对用(ssk, SPK)标记。
标识密钥(Identity-key)由标识产生，用(isk,IPK)标记。
组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成，用(csk,CPK)标记。
复合特性
在椭圆曲线密码ECC中，任意多对公、私钥，其私钥之和与公钥之和构成新的公、私钥对。
如果，私钥之和为：( r1 + r2 + … + rm ) mod n = r
则对应公钥之和为： R1 + R2 + … + Rm= R (点加)
那么，r和R刚好形成新的公、私钥对。
因为，R = R1 + R2 + … + Rm =r1G + r2G +…+ rmG = (r1 +r2 +…+ rm) G = r G
分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙
意义：制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。
计算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp (Capability of Precision)：制程精密度；在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；对於双边规格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ
参考资料
百度百科—CPK：
cpk计算公式及解释是什么？
过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。
计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］。
1、双侧规格
双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。
2、有偏移情形
有偏移情形的过程能力指数：当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，显然不合格率（如图1上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。
定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度为K：
这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。显然，具有：CPK≤CP。
3、单侧规格
单侧规格情形的过程能力指数：若只有规格上限的要求，而对规格下限无要求，则过程能力指数计算如下：
式中，CPU为上单侧过程能力指数。若μ≥TU，令CPU=0，表示过程能力严重不足，过程的不合格品率高达50%以上。
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